标签:工艺优化

低频噪声测试:把看不见的问题看清楚

低频噪声已成为半导体行业面临的关键挑战之一,随着晶体管尺寸进入纳米级别,单个陷阱对器件电流的扰动愈发显著。这种噪声主要包括闪烁噪声、随机电报噪声、...

半导体行业的“良率之殇”

在后摩尔时代,半导体行业面临良率管理的严峻挑战。随着芯片复杂度和晶体管密度的增加,良率管理难度呈指数级增长,特别是对追求先进制程的晶圆厂来说,良率...