标签：DFT

智能诊断+AI 双核赋能广立微YAD贯穿全链路良率诊断分析

长期以来，良率被视为芯片厂商和晶圆代工厂的生命线，不仅是成本控制的关键，更是提升生产效率、增强市场竞争力的核心驱动力。随着设计与工艺复杂度的提升，...

AIGC动态

2天前